REM / EDX

Die Rasterelektronenmikroskopie sowie die EDX - Analysetechnik sind Technologien mit denen Bilder sowie qualitative Analysen (Spektren) sowohl von Bauteilen (Probengröße begrenzt) aber auch von kleinsten Partikel (wenige µm groß) erstellt werden können.

Durch verschiedene Auswertungsmöglichkeiten sind sowohl punktförmige als auch flächige Bereiche prüfbar. Bei besonderen Anwendungsfällen können wird auch sogenannte Linescananalysen durchführen. Auch kleinste Partikel sowie Belagsabstriche auf Swab-Probenahmestäbchen stellen für uns kein analytisches Hindernis dar.